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磁芯损耗测试:ZES 功率分析仪LMG系列
上传时间:24-09-06

磁芯损耗测试:ZES 功率分析仪LMG系列

在电机的铁磁元件中,磁芯损耗是由于磁场变化的影响而产生的,这种影响都是由不断的磁极倒转和涡流损耗引起的,这些涡流损耗Z终转化为热能或声能。电机磁芯损耗测试。


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功率测试仪使用方法


磁芯损耗通常是一直存在的当然,因为损耗的多少对电池及电机都会产生不良影响,例如,会减少电动车电池的效率,所以,不管任何时候,我们都希望尽量减少这种损耗


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电机磁芯损耗测试


通过测试绕组的励磁电流和传感器绕组的磁化电压,可以直接测量铁芯的功率损耗。磁芯材料中的磁通密度可以由传感器绕组中感应电流的整流值导出。磁场强度与流过测试绕组的电流成正比。高频电流可以直接在磁芯中测量,高精度传感器被用来测量高安培的叠片磁芯。


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功率测试仪使用方法


磁芯损耗的测试对功率分析仪提出来巨大的挑战。1、需要测量极低功率因数下的准确功率值(功率因数<0.01),这个数值很多功率分析仪是无法给出准确的高精度数值的。2、大量变量值的计算,比如磁场强度(Hpk)、磁通密度(Bpk)等。

Zimmer高精度功率分析仪LMG系列功率分析仪,可在0.01功率因数下保障极高的测量精度、极高的带宽及大量数据的计算输出。

 

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高精度功率分析仪


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